蔡司首款晶体学工业CT上市，启用3D晶体成像

 　　蔡司首款晶体学工业CT上市，启用3D晶体成像

 　　Zeiss Research Microscopy Solutions(ZRMS)是无损3D成像系统的开发商，推出了Xradia CrystalCT微计算断层扫描(microCT)系统。该系统旨在实现多晶材料的3D晶体成像，适用于一系列金属、增材制造、陶瓷和制药样品。

　　新的microCT在传统的计算机断层扫描系统上提供衍射对比断层扫描(DCT)，使研究人员能够用3D晶体学信息来补充吸收对比断层扫描数据。它由*新的Xradia平台提供DCT，与实验室衍射成像系统开发商Xnovo Technology合作开发。

　　ZRMS表示，与传统的破坏性三维晶体学方法相比，大体积晶粒图谱，提高了数据量的代表性，通过采集模式实现了无缝隙扫描，以获得快速和准确的三维晶粒数据。

　　用Xradia Crystal CT对铝铜合金进行成像和分析

　　先进的扫描模式消除了高生产率实验室环境中常见样品的尺寸和采集速度的限制。运行更大尺寸样品的能力消除了实验室中的限制，从而加快了分析时间。

　　蔡司Xradia CrystalCT是搭建在微米CT上的商业化实验室衍射衬度断层成像(DCT)系统。与传统的破坏性三维晶体学成像方法相比，无缝的大体积晶粒成像让实验数据量更具代表性。高级的采集模式可实现自由拼接扫描以快速准确地获取三维晶粒数据。先进的数据采集模式通过免拼接的扫描方式，可快速准确地得到三维晶粒数据。大尺寸样品的成像能力降低了实验室中的很多限制，可实现更多样品类型的分析和更少的样品准备时间，从而缩短了整体分析时间。更快地采集速度可缩短样品运行时间，从而提高实验室分析效率。

　　在蔡司3D X射线显微镜Xradia 620 Versa上提供的DCT成像功能的扩展模块之前，DCT成像只能在同步辐射光源上实现。蔡司Xradia CrystalCT除了作为一个DCT平台之外，它还是一个优秀的微米CT成像系统，它是建立在高度成熟稳定的蔡司Xradia Versa基础上，为一系列3D成像需求提供出色的分辨率和图像质量。

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