蔡司工业CT对Pancake模组进行整体3D缺陷检测

 　　Pancake 方案光路设计复杂，组装和对齐调整要求很高，细微差异便会导致光学模组整体的光路变化。蔡司工业CT METROTOM可以对组装后的Pancake模组进行整体3D内部结构及缺陷的观察，不需要破环样品，就能够实现内外尺寸的高精度无损测量。

　　此外，蔡司工业CT METROTOM无需破坏工件可视化其整体3D内部结构及缺陷;能够实现内外尺寸的高精度无损测量。METROTOM采用同一数据集对缩孔、变形、气孔、裂纹等进行缺陷分析，在满足自由曲面高精度可追溯测量要求的同时，还能快速提供测量结果。

　　dToF 3D相机的集成检测

　　在炙手可热的元宇宙中，VR系统正越来越多地用于娱乐、教育、医疗和工业领域。VR可以帮助用户在虚拟空间中模拟复杂的任务。通过在VR设备中使用dToF(Direct-Time of flight直接飞行时间)，用户能够通过复杂而准确的位置/运动检测，轻松地在虚拟空间中获得沉浸式的体验。

　　dToF工作原理简单来说就是通过探测光脉冲的飞行(往返)时间来得到目标物距离进而获得物体的3D成像。dToF 3D相机具备测量准确，反应迅速，功耗低等优势。因此3D成像技术提供的手势识别功能将成为未来AR/VR领域的核心交互手段。针对dToF 3D相机的检测，蔡司工业CT METROTOM 800 225kV HR能够对其dToF模组内部的光学元件和PCBA等进行结构和缺陷检测。

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