蔡司X射线显微镜Xradia Versa 630推动研究发展

 　　蔡司三维X射线显微镜(XRM)，用户能够实现更高水平的研究成果，拓展研究视野。

　　ZEISS Xradia Versa系列以其远距离分辨率(Raad)技术而闻名，而现在这一系列又迎来了更新升级——ZEISS Xradia 630 Versa。

　　了解推动材料研究中的相关研究发展，包括AI驱动的X射线和Laserfib三维显微技术的创新。

　　精准搜索

　　从微电子元器件的集成材料工程和高级合金和复合材料的变形，到锂离子电池或其他能源材料中的孔隙传输和离子迁移，材料科学中的许多问题只有通过三维成像才能得到完全的解决。材料科学的主要推动力是将宏观尺度的材料特性与特定的微米和纳米级结构联系起来。从这个角度来看，众多应用领域的材料研究人员长期以来的目标是寻找并分析深藏在大宗样品中的关键纳米级特征。

　　推动材料研究中的相关研究发展

　　三维X射线、LaserFIB和AI驱动的显微技术方面引人入胜的创新推进材料研究发展。将飞秒激光器与FIB-SEM(LaserFIB)集成可提供功能强大、精度高的样品制备方案。相关X射线显微镜可以有意选择样品位点，以确保所选位点的代表性。将深度学习算法与X射线显微镜结合，全面提升XRM图像质量，保留视野范围内的整体结构，同时提高细节部分的分辨率，并实现更好的自动化、精度、重复性和速度，无需数小时仅需几分钟即可完成作业。

　　精准快速准备FIB-SEM结构

　　了解如何直接获取隐藏在表面下的感兴趣区域(ROI)，揭示不同材料类型中的所有结构细节。无论是硬质或软质材料、纳米科学、工程或能源材料、导电或绝缘材料：LaserFIB可实现前所未有的样品加工速度。

　　了解全新推出的ZEISS Xradia Versa 630及其新功能

　　作为Versa系列的全新成员，该设备打破了分辨率性能限制，提供直观的用户体验，通过简单的引导式工作流程和更高的吞吐量提高了生产力。采用颠覆性AI的重建技术，为学术和工业领域用户提供X射线显微镜新功能。探索材料科学、电池研究、先进电子学、生命科学等领域内前所未有的样品测试应用。

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